品牌 | FISCHERSCOPE |
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型号 | XULM |
测量范围 | 从氯(17)到铀(92) |
FISCHERSCOPE X-RAY XULM是一款应用广泛的能量色散型X射线荧光光谱仪,它结构紧凑,小巧耐用。它们十分适用于无损测量细小零部件上的镀层厚度和成分分析。可测量的元素范围从氯(17)到铀(92)。
特点:用途广泛的镀层厚度测量仪
通过组合可选的高压和滤片,可以对较薄的镀层(如50 nm Au 或 100 μm Sn)和较厚的镀层进行同样效果的测量.
配有的微聚焦管,可以测量100 μm大小的微小测量点
比例计数器可实现数千cps(每秒计数率)的高计数率
从下至上的射线方向,从而可以快速简便的放置样品。
底部C型开槽的大容量测量舱
典型应用领域:测量线路板工业中 Au/Ni/Cu/PCB 或 Sn/Cu/PCB中的镀层
电子行业中接插件和触点上的镀层
装饰性镀层Cr/Ni/Cu/ABS
电镀镀层,如大规模生产零件(螺栓和螺母)上的防腐蚀保护层Zn/Fe,ZnNi/Fe
珠宝和钟表工业
测量电镀液中金属成分含量
XULM型X射线光谱仪有着良好的长期稳定性,这样**不需要经常校准仪器。本款仪器特别适合用于客户进行质量控制、进料检验和生产流程监控。